ATOMIC FORCE MICROSCOPY – IMAGING, MEASURING AND MANIPULATING SURFACES AT THE ATOMIC SCALE

With the advent of the atomic force microscope (AFM) came an extremely valuable analytical resource and technique, useful for the qualitative and quantitative surface analysis with sub-nanometer resolution. In addition, samples studied with an AFM do not require any special pretreatments that may alter or damage the sample, and permit a three dimensional investigation of the surface.

Không thể tạo bản xem trước, hãy bấm tải xuống
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.