Chương này thảo luận về giai đoạn phát triển dùng phép thử nghiệm tính chín chắn của thiết kế DMT cho ICS, thiết bị hỗn hợp và các lắp ghép để bảo đảm độ tin cậy cao trong các ứng dụng dài hạn (10 năm). Các thie1t bị và bộ phận lắp ghép là đại diện cho phần lớn các sản phẩm trong công nghệ IC.