AFM - Atomic Force Microscope là một thiết bị quan sát cấu trúc vi mô bề mặt của vật rắn dựa trên nguyên tắc xác định lực tương tác nguyên tử giữa một đầu mũi dò nhọn với bề mặt của mẫu, có thể quan sát ở độ phân giải nanômet. Bài thuyết trình AFM - Atomic Force Microscope sau đây tập trung làm rõ vấn đề này.