Effects of MgO on dielectric relaxation and phase transition of the ceramic matrix BaBi4Ti4O15

X-ray diffraction analysis and impedance spectroscopy measurements were employed to study the influence of the structural characteristics on the electrical properties. The formation of the orthorhombic phase for all samples with a decrease in the unit cell volume was due to insertion of Mg2þ into Ti4þ sites. |

Không thể tạo bản xem trước, hãy bấm tải xuống
TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.