Analysis of trace element atmospheric deposition by barbula indica moss at Baoloc using the total reflection X ray fluorescence technique

In this investigation, the Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) technique detected 24 elements: Al, P, S, Cl, K, Sr, Sc, Ti, Mn, Fe, Co, Cu, Zn, As, Br, Ba, La, Eu, Tb, Dy, Ta, Pb, Th, and U in Barbula indica moss collected at Baoloc (Vietnam) from November 2019 to March 2020. Factor analysis was used to explain contamination sources at the sampling sites. |

Không thể tạo bản xem trước, hãy bấm tải xuống
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.