A study on crystalline morphology of an ALN thick film grown on the trench parterned α-Al2O3 using X ray difraction

The crystalline morphology such as domain texturing, lattice tilting in a thick aluminum nitride (AlN) film grown on a trench-patterned α-Al2O3 template was investigated using X-ray diffraction measurements. The results clearly demonstrated that the trench-patterned template has a strong influence on the crystalline morphology in the thick AlN film. |

Bấm vào đây để xem trước nội dung
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.