Trong nghiên cứu này, hiệu quả bảo vệ chống ăn mòn của sơn thủy tinh lỏng với các hàm lượng kẽm khác nhau đã được nghiên cứu bằng cách sử dụng phương pháp đo tổng trở điện hóa EIS và phương pháp đo thế mạch hở OCP. | Nghiên cứu khoa học công nghệ ẢNH HƯỞNG CỦA HÀM LƯỢNG KẼM TRONG MÀNG PHỦ THỦY TINH LỎNG TỚI HIỆU QUẢ BẢO VỆ CATOT TRÊN THÉP CT3 LÊ HỒNG QUÂN 1 NGUYỄN VĂN CHI 1 MAI VĂN MINH 1 1. ĐẶT VẤN ĐỀ Sơn giàu kẽm trên cơ sở thủy tinh lỏng đang được nghiên cứu hiện nay vừa có tính thân thiện với môi trường không độc hại vừa có hiệu quả bảo vệ chống ăn mòn cho các công trình thép kim loại. Đặc tính bảo vệ chống ăn mòn theo cơ chế bảo vệ catot vẫn đạt hiệu quả ngay cả khi có một số hư hỏng nhỏ đối với lớp phủ. Trong lớp phủ giàu kẽm các hạt kẽm đóng vai trò là anot hy sinh bảo vệ thép nền đóng vai trò là một catot. Trong nghiên cứu này chúng tôi sử dụng hạt kẽm hình cầu được phân tán trong chất kết dính thủy tinh lỏng mô đun cao. Trong các tài liệu nghiên cứu trước đây đối với sơn giàu kẽm sử dụng chất kết dính hữu cơ hàm lượng kẽm phải lớn hơn 65 khối lượng thì lớp phủ mới có hiệu quả theo cơ chế bảo vệ catot 1 2 . Phương pháp nghiên cứu điện hóa được sử dụng rộng rãi để đánh giá các đặc tính bảo vệ của lớp phủ và cơ chế chống ăn mòn. Nhiều nghiên cứu cho rằng tổng trở điện hóa của lớp phủ ở tần số thấp nhỏ hơn hơn 107 thì lớp phủ đó không có khả năng bảo vệ 3 4 . Tuy nhiên kết quả đó không áp dụng được cho sơn giàu kẽm. Sơn giàu kẽm tuân theo cơ chế bảo vệ catot và không tuân theo cơ chế rào cản do đó nếu lớp phủ giàu kẽm có đặc tính chống ăn mòn tốt thì tổng trở điện hóa của nó ở tần số thấp chỉ vài Ohm. Thế ăn mòn Ecor cho phép theo dõi hoạt động điện hóa của lớp phủ giàu kẽm. Các tác giả cho rằng sự phát triển Ecor của lớp phủ giàu kẽm có mối quan hệ chặt chẽ với tỷ lệ của các khu vực hoạt động kẽm thép và cho phép xác định thời gian bảo vệ catot là khoảng thời gian mà Ecor vẫn thấp hơn điện thế ăn mòn tự do của thép nền 5 6 Trong nghiên cứu này hiệu quả bảo vệ chống ăn mòn của sơn thủy tinh lỏng với các hàm lượng kẽm khác nhau đã được nghiên cứu bằng cách sử dụng phương pháp đo tổng trở điện hóa EIS và phương pháp đo thế mạch hở OCP. 2. THỰC NGHIỆM . Chuẩn bị .
