Bài viết trình bày một phương pháp mới để xác định nồng độ vô cùng thấp của các phân tử bằng cách sử dụng đầu dò tán xạ Raman tăng cường bề mặt (SERS) trên nền vật liệu silic xốp (PSi) có phủ các hạt nano bạc (AgNPs). | TẠP CHÍ KHOA HỌC VÀ CÔNG NGHỆ Trường Đại học Khoa học ĐH Huế Tập 16 Số 1 2020 CẢM BIẾN DỰA TRÊN ĐẦU DÒ SERS SỬ DỤNG SILIC XỐP PHỦ NANO KIM LOẠI BẠC ĐỂ XÁC ĐỊNH NỒNG ĐỘ THẤP CÁC PHÂN TỬ Nguyễn Thúy Vân1 Phạm Thanh Bình1 Vũ Đức Chính1 Ngô Thị Thu Hiền2 Đỗ Thùy Chi2 Hoàng Thị Hồng Cẩm3 Nguyễn Văn Ân4 Bùi Huy1 Phạm Văn Hội1 Phạm Thanh Sơn1 1 Viện Khoa học vật liệu Viện Hàn lâm KH amp CN Việt Nam 2 Trường Đại học sư phạm Đại học Thái Nguyên 3 Trường Đại học Khoa học và Công nghệ Hà Nội Viện Hàn lâm KH amp CN Việt Nam 4 Trường Đại học Khoa học Đại học Huế Email vannt@ Ngày nhận bài 21 7 2020 ngày hoàn thành phản biện 28 7 2020 ngày duyệt đăng 28 7 2020 TÓM TẮT Trong bài báo này chúng tôi trình bày một phương pháp mới để xác định nồng độ vô cùng thấp của các phân tử bằng cách sử dụng đầu dò tán xạ Raman tăng cường bề mặt SERS trên nền vật liệu silic xốp PSi có phủ các hạt nano bạc AgNPs . Trên bề mặt PSi do được phủ các liên kết Si-H liên kết này có tác dụng khử các ion Ag để hình thành các nguyên tử Ag sau đó các nguyên tử Ag kết hợp với nhau thành hạt nano Ag với mật độ cao của các vùng quot điểm nóng quot . Đế SERS AgNPs PSi với hiệu suất tăng cường cao được đánh giá qua việc xác định các phân tử chất màu methyl da cam MO với các nồng độ khác nhau trong khoảng từ 10-3 M tới 10- 11 M. Hệ số tăng cường EF của đế SERS AgNPs PSi đạt khoảng 3x1011 tại nồng độ 10-11 M. Giới hạn phát hiện LOD thu được 10-12 M đối với các phân tử MO. Các kết quả này mở ra triển vọng trong lĩnh vực cảm biến khi sử dụng đế SERS AgNPs PSi. Từ khóa hạt nano bạc methyl da cam SERS silic xốp. 1. MỞ ĐẦU Quang phổ Raman Raman spectroscopy - RS đã thu hút được sự quan tâm lớn như một kỹ thuật cảm biến sinh học nhờ tính đặc hiệu hóa học tuyệt vời của nó vì chúng có đặc điểm quan trọng là mỗi phân tử đều có các phổ Raman riêng biệt vì vậy phương pháp phân tích vật liệu bằng tán xạ Raman có tính chọn lọc rất cao không thua kém phương pháp khối phổ kế . Tuy nhiên tín hiệu Raman thông thường
