Genome-wide association study reveals the genetic basis of yield- and quality-related traits in wheat

Identifying the loci and dissecting the genetic architecture underlying wheat yield- and qualityrelated traits are essential for wheat breeding. A genome-wide association study was conducted using a highdensity 90 K SNP array to analyze the yield- and quality-related traits of 543 bread wheat varieties. |

Không thể tạo bản xem trước, hãy bấm tải xuống
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
170    222    5    28-03-2024
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.