Low power multilevel resistive switching in titanium oxide-based RRAM devices by interface engineering

The thermodynamics involving the dielectric constant and Gibb's free energy of oxide formation at the Al/TiOx and TiOx/TiOy interfaces play a pivotal role in the associated switching mechanism. The spatial variability of the operating voltage across these devices is found to be as low as 8%. These findings pave the way for low power, low cost, and high density data storage applications. |

Không thể tạo bản xem trước, hãy bấm tải xuống
TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.