Dự báo tuổi thọ pin Lithium-Ion xe ô tô điện dựa trên thuật toán hồi quy tuyến tính - Machine Learning

Bài viết "Dự báo tuổi thọ pin Lithium-Ion xe ô tô điện dựa trên thuật toán hồi quy tuyến tính - Machine Learning" đề xuất mô hình dự báo tuổi thọ pin Lithium-ion cho xe ô tô điện dựa trên thuật toán hồi quy tuyến tính máy học có giám sát. Dự đoán dung lượng của pin Lithium-ion dựa trên mô hình hóa mỗi cell pin phụ thuộc nhiệt độ. Mô hình này sẽ được huấn luyện bởi thuật toán hồi quy tuyến tính meachine learning (ML) để đưa ra kết quả dự báo dung lượng pin đầy hứa hẹn khi có đủ dữ liệu thử nghiệm. Mời các bạn cùng tham khảo! | Hội nghị Quốc gia lần thứ 25 về Điện tử Truyền thông và Công nghệ Thông tin REV-ECIT2022 Dự Báo Tuổi Thọ Pin Lithium-Ion Xe Ô Tô Điện Dựa Trên Thuật Toán Hồi Quy Tuyến Tính - Machine Learning Võ Thanh Hà1 Phạm Thị Giang2 Đào Thanh Toản1 1 Khoa Điện-Điện Tử Trường Đại học Giao Thông Vận Tải 2 Khoa Điện Trường Đại học Kinh Tế Kỹ Thuật Công Nghiệp Email Abstract Bài báo đề xuất mô hình dự báo tuổi thọ pin bằng trở kháng. Phương pháp đếm dung lượng theo Lithium-ion cho xe ô tô điện dựa trên thuật toán hồi quy thời gian - Coulomb CC sử dụng tích phân dòng xả tuyến tính máy học có giám sát. Dự đoán dung lượng của hoặc sạc để tính dung lượng còn lại trong pin. Phương pin Lithium-ion dựa trên mô hình hóa mỗi cell pin phụ pháp này thực hiện tính toán đơn giản nên phương pháp thuộc nhiệt độ. Mô hình này sẽ được huấn luyện bởi thuật được sử dụng rất rộng rãi 9 . Các tác giả của 10 đã toán hồi quy tuyến tính meachine learning ML để đưa phát triển một mô hình phi tuyến tính của pin bằng cách ra kết quả dự báo dung lượng pin đầy hứa hẹn khi có đủ sử dụng các thông số mạch như điện trở tụ điện và cuộn dữ liệu thử nghiệm. Kết quả bài báo đưa ra dựa vào các cảm dựa trên mô hình mạch Randles đã sửa đổi để dự tính năng trên 100 chu kỳ sạc và xả đầu tiên để dự đoán đoán sự suy giảm dung lượng pin. Tuy nhiên độ chính dung lượng còn lại của pin. Kết quả này cho phép nhận dạng nhanh chóng các quy trình sản xuất pin và cho phép xác của các phép đo EIS bị ảnh hưởng nhiễu gây ra bởi người dùng quyết định thay thế pin bị lỗi khi xác định các thành phần tích hợp khác trong hệ thống 11 . Bên được suy giảm hiệu suất của pin và thời gian sử dụng. Kết cạnh đó theo tài liệu 12 mô hình dự báo tuổi thọ kết quả dự đoán được chứng minh bằng mô phỏng Matlab hợp với công nghệ lọc tiên tiến sẽ dự báo sự suy giảm với sai số nhỏ khoảng . dung lượng pin đối với các mô hình mạch tương đương có số lượng lớn các tham số phức tạp đa dạng và chưa Keywords- Xe ô tô điện Machine .

Không thể tạo bản xem trước, hãy bấm tải xuống
TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.