Bài viết Ứng dụng phương pháp tán xạ tia X góc nhỏ đánh giá ảnh hưởng thăng giáng mật độ điện tử lên các cấu trúc vi mô của màng dẫn proton trong pin nhiên liệu trình bày việc áp dụng phương pháp Vonk bậc 6 (Vonk 6) để tính toán thăng giáng mật độ điện tử. | Ứng dụng phương pháp tán xạ tia X góc nhỏ đánh giá ảnh hưởng thăng giáng mật độ điện tử lên các cấu trúc vi mô của màng dẫn proton trong pin nhiên liệu 1 2 3 La Lý Nguyên 2Lâm Hoàng Hảo 4Nguyễn Văn Giai 2Lê Viết Hải 5Nguyễn Tiến Cường 1 Lưu Anh Tuyên 1Phan Trọng Phúc 1Nguyễn Thị Ngọc Huệ 1Phạm Thị Huệ 2 Trần Duy Tập Trung tâm Hạt nhân Viện Năng lượng Nguyên tử Việt Nam 1 217 Nguyễn Trãi Quận 1 . 2 Khoa Khoa học và Công nghệ Vật liệu Trường Đại học Khoa học Tự nhiên Đại học Quốc gia HCM 227 Nguyễn Văn Cừ Quận 5 . 3 Viện Công nghệ nano Đại học Quốc gia HCM Phường Linh Trung Quận Thủ Đức . 4 Khoa Vật lý Vật lý Kỹ thuật Trường Đại học Khoa học Tự nhiên Đại học Quốc gia HCM 227 Nguyễn Văn Cừ Quận 5 . 5 Khoa Vật lý Trường Đại học Khoa học Tự nhiên Đại học Quốc gia Hà Nội 334 Nguyễn Trãi Quận Thanh Xuân Hà Nội. Email lalynguyen279@ tdtap@ Tóm tắt Thăng giáng mật độ điện tử hiện diện khắp nơi trong dữ liệu cường độ tán xạ tia X góc nhỏ SAXS nhưng ảnh hưởng rất lớn và nghiêm trọng đối với các cấu trúc được ghi nhận ở vùng vector tán xạ góc lớn bởi vì đóng góp của thăng giáng mật độ điện tử tại vùng này lớn hơn 90 trong tổng cường độ tán xạ. Vật liệu màng dẫn proton poly ethylene-co- tetrafluoroethylene ghép mạch poly styrene sulfonic acid ETFE-PEM chứa các cấu trúc vi mô với các kích thước khác nhau gồm cấu trúc lamellar cấu trúc vùng chuyển tiếp pha và cấu trúc vùng dẫn proton. Các cấu trúc này có mối quan hệ chặt chẽ với các tính chất của màng như tính dẫn proton tính hấp thụ nước độ bền cơ lý độ bền hóa học độ bền nhiệt và các tính chất khác nên có liên hệ với hiệu quả hoạt động và hiệu suất của pin nhiên liệu. Trong nghiên cứu này chúng tôi sử dụng mô hình Vonk bậc 6 Vonk 6 để đánh giá thăng giáng mật độ điện tử ảnh hưởng lên các cấu trúc vừa nêu bằng phương pháp SAXS. Kết quả nghiên cứu cho thấy thăng giáng mật độ điện tử ảnh hưởng mạnh mẽ lên bề dày vùng chuyển tiếp và cấu trúc vùng dẫn ion nhưng không đáng kể lên .
