Highly sensitive refractive index sensing based on nanostructured porous silicon interferometers

In this study, we present the experimental evidence demonstrating the utility of electrical double layer (EDL)-induced ion accumulation, using sodium (Na+) ion in water as a model substance, on a negatively charged nanostructured surface, specifically thermally grown silicon dioxide (SiO2). This novel approach, termed Ion Surface Accumulation (ISA), aims to enhance the performance of nanostructured porous silicon (PSi) interferometers in optical refractometric applications. |

Không thể tạo bản xem trước, hãy bấm tải xuống
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.