Độ chính xác * Định nghĩa - Cấp chính xác: Cấp chính xác là khả năng lặp lại của kết qủa từ nhiều lần đo giống hệt nhau. Độ phân bố năng lượng của XRF được dùng để xác định mức độ tập trung của nguyên tổ nhờ vào việc đo cường độ tia X hay cũng chính là năng lượng của tia X. Cường độ của tia X tại một mức năng lượng được xác định bằng cách đếm số lượng các sự kiện xuất hiện tại mức năng lượng đó trong một trong thời gian cho trước, kết. | Chương 9 r -B. AI Ấj Phép đo và kêt quả a. Độ chính xác Định nghĩa - Cấp chính xác Cấp chính xác là khả năng lặp lại của kết qủa từ nhiều lần đo giống hệt nhau. Độ phân bố năng lượng của XRF được dùng để xác định mức độ tập trung của nguyên tổ nhờ vào việc đo cường độ tia X hay cũng chính là năng lượng của tia X. Cường độ của tia X tại một mức năng lượng được xác định bằng cách đếm số lượng các sự kiện xuất hiện tại mức năng lượng đó trong một trong thời gian cho trước kết quả là được các đỉnh trong phổ năng lượng. Vì bức xạ của tia X là ngẫu nhiên cho nên số các sự kiện đo được trong một khoảng thời gian cố định trên một chuỗi các phép đo giống hệt nhau sẽ thay đổi. Vì thế có thể sẽ đưa ra các kết quả phân tích khác nhau nhưng sẽ là không đáng kể. - Độ chính xác Ngược lại với cấp chính xác của một phép đo độ chính xác được định nghĩa là độ lệch của kết quả đo được so với giá trị thực hoặc giá trị đó được chứng nhận. Trong trường hợp không có bất cứ sai số hệ thống nào giá trị trung b ình của nhiều kết quả thu được từ nhiều phép đo giống hệt nhau sẽ cho ta giá trị thực khi số lượng các phép đo tăng lên. Các thủ tục hiệu chỉnh được sử dụng trong TN Alloy Pro được xây dựng để giảm thiểu các lỗi hệ thống Giá trị trung b ình tì b tì Độ lệch so với giá trị trung Dữ liệu tập trung mức năng lượng của các photon phản xạ lại trong một khoảng thời gian Độ lệch so với giá trị trung bình Hình Dữ liệu tập trung mức năng lượng của các photon phản xạ lại trong một khoảng thời gian - Sai số sai số chủ yếu của phép đo là do tính ngẫu nhiên của sự phát xạ tia X. Tuy nhiên sai số cũng có thể là kết quả của nhiều nguyên nhân khác ví dụ như do vị trí đặt mẫu có lớp bẩn hoặc lớp phủ bám trên bề mặt của mẫu do quá trình chuyển động khi đo hoặc do các sai số hoạt động. Sự phân bổ của dữ liệu số các sự kiện tia X đếm được hoặc cường độ tia X có dạng như đường cong hình chữ U là phân bố Gaussian Hình . Độ lệch chuẩn của sự phân bố chính là sai số của phép đo theo số lượng các sự .
