Tài liệu tham khảo dành cho giáo viên, sinh viên chuyên ngành y khoa - Giáo trình, bài giảng y học qua các năm học y. | CHỤP CẮT LỚP ĐIỆN TOÁN SỌ NÃO (CT SCANNER) Dàn bài Đại cương Nguyên tắc Kỹ thuật Chỉ định CT Scan trong chấn thương sọ não BS. ĐÀM XUÂN TÙNG Mục tiêu bài giảng : Qua bài này sinh viên có khả năng : Giải thích được nguyên tắc cơ bản của phương pháp chụp cắt lớp điện toán (CLĐT). Trình bày các chỉ định của CLĐT trong chấn thương sọ não & một số bệnh lý của hệ thần kinh trung ương. Đọc được các dấu hiệu máu tụ, dập não, phù não trên CLĐT sọ não. Lịch sử: Năm 1895, . RÖntgen đã tìm ra tia X, từ đó về sau đã có nhiều cải tiến kỹ thuật nhưng vẫn còn hạn chế. 1972 . Hounsfield & . Cormack đã phát minh ra phương pháp chụp cắt lớp điện toán (CLĐT). Phương pháp này càng được phổ biến và kỹ thuật ngày càng được nâng cao. 2. NGUYÊN TẮC : Chụp CLĐT là phép đo mật độ của các điểm khối (voxel) của 1 lớp cắt sọ não. Nghiên cứu độ suy giảm của chùm tia X khi qua một lớp cắt của não. Chùm tia X được nén mỏng, chỉ quét một lớp mỏng để tránh hiện tượng chồng chất hình ảnh, hạn chế tối thiểu sự tán xạ. ống đèn tia X Đầu dò Biểu đồ cường độ Hình 1. Đầu dò Lớp cắt thứ nhất Lớp cắt 60th Lớp cắt 120th Đầu tia X Các bước xoay H. 3. Đầu tia X Vòng đầu dò CT Scan thế hệ thứ 3 Vòng đầu dò cố định, đầu tia X xoay Chùm tia X rẻ quạt Đầu tia X CT thế hệ thứ 4 Nhờ máy vi tính xử lý sẽ cho hình ảnh 100 lần chính xác hơn phương pháp chụp X Quang cổ điển. Tuy nhiên một mặt phẳng chiếu không đủ để tái tạo trọn vẹn hình ảnh của một lớp cắt nên cần có chuyển động xoay quanh trục chính của bệnh nhân. Các đầu dò hay bộ phận cảm biến (detectors) tạo bởi những tinh thể nhấp nháy (scintillation crystals) hay các buồng khí Xenon cho phép đo độ suy giảm của chùm tia X khi qua lớp cắt của sọ. Độ hấp thu chùm tia X của các khối vật chất được tính theo phương trình Lamor : I= Io e - L. Io : cường độ tia ban đầu I: cường độ tia sau khi xuyên qua lớp cắt : hệ số hấp thu, phụ thuộc vào mật độ điện tử, bậc nguyên tử của cấu trúc mô khác nhau trong cơ thể. L: bề dày của lớp cắt. Biết được Io, I, L ta tính | CHỤP CẮT LỚP ĐIỆN TOÁN SỌ NÃO (CT SCANNER) Dàn bài Đại cương Nguyên tắc Kỹ thuật Chỉ định CT Scan trong chấn thương sọ não BS. ĐÀM XUÂN TÙNG Mục tiêu bài giảng : Qua bài này sinh viên có khả năng : Giải thích được nguyên tắc cơ bản của phương pháp chụp cắt lớp điện toán (CLĐT). Trình bày các chỉ định của CLĐT trong chấn thương sọ não & một số bệnh lý của hệ thần kinh trung ương. Đọc được các dấu hiệu máu tụ, dập não, phù não trên CLĐT sọ não. Lịch sử: Năm 1895, . RÖntgen đã tìm ra tia X, từ đó về sau đã có nhiều cải tiến kỹ thuật nhưng vẫn còn hạn chế. 1972 . Hounsfield & . Cormack đã phát minh ra phương pháp chụp cắt lớp điện toán (CLĐT). Phương pháp này càng được phổ biến và kỹ thuật ngày càng được nâng cao. 2. NGUYÊN TẮC : Chụp CLĐT là phép đo mật độ của các điểm khối (voxel) của 1 lớp cắt sọ não. Nghiên cứu độ suy giảm của chùm tia X khi qua một lớp cắt của não. Chùm tia X được nén mỏng, chỉ quét một lớp mỏng để tránh hiện tượng chồng chất hình ảnh, hạn chế tối thiểu .
