Báo cáo " Survey of WO3 thin film structure built on ito/glass substrates by the Raman and xrd spectroscopies"

Tungsten oxide film was deposited on ITO-coated glass by using RF magnetron sputtering method from WO3 ceramic target. Thin film preparation – process took place in Ar + O2 plasma. The dependence of tungsten oxide film structure on experiment conditions was investigated by X-ray diffraction (XRD) Raman spectroscopy. In this paper, we considered that the thickness of ITO layers about 150nm to 350nm clearly effects on the Raman and XRD spectrograms of WO3 films.

Không thể tạo bản xem trước, hãy bấm tải xuống
TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
98    108    2    07-06-2024
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.