Báo cáo "Investigation of zinc oxide thin film by spectroscopic ellipsometry "

ZnO films were deposited on glass substrates by magnetron RF-sputtering. An accurate determination of the optical constants of these films is extremely important prior to its application in optical devices and spectroscopic ellipsometry provides a reasonably accurate method for the determination of optical constants of thin films.

Không thể tạo bản xem trước, hãy bấm tải xuống
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
298    1    1    03-06-2024
214    187    1    03-06-2024
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.