An analysis of the surface potential of monocrystalline silicon solar cell using kelvin probe force microscopy

This paper investigates the effect of defects on the electrical properties of monocrystalline silicon solar cells (mono-Si/m-Si). It characterises work function in terms of surface potential (SP) using scanning probe microscopy (SPM), and Kelvin probe force microscopy (KPFM) in force modulation mode, as opposed to the usual amplitude modulation mode. | An analysis of the surface potential of monocrystalline silicon solar cell using kelvin probe force microscopy

Không thể tạo bản xem trước, hãy bấm tải xuống
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
26    75    1    26-06-2024
184    104    9    26-06-2024
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.