CuAlS2 thin films - Dip coating deposition and characterization

CuAlS2 thin films were deposited by a dip coating technique at room temperature. The X-ray energy dispersive (EDAX) and X-ray diffraction (XRD) analysis showed that the deposited CuAlS2 thin film is nearly stoichiometric and possesses a tetragonal unit cell structure. |

Không thể tạo bản xem trước, hãy bấm tải xuống
TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.