Ebook Electrical atomic force microscopy for nanoelectronics: Part 1

Part 1 book "Electrical atomic force microscopy for nanoelectronics" includes content: The atomic force microscopy for nanoelectronics; conductive afm for nanoscale analysis of high K dielectric metal oxides; mapping conductance and carrier distributions in confined three dimensional transistor structures; scanning capacitance microscopy for two dimensional carrier profiling of semiconductor devices; oxidation and thermal scanning probe lithography for high resolution nanopatterning and nanodevices. |

Không thể tạo bản xem trước, hãy bấm tải xuống
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
10    77    2    16-06-2024
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.