Đang chuẩn bị liên kết để tải về tài liệu:
A study on crystalline morphology of an ALN thick film grown on the trench parterned α-Al2O3 using X ray difraction

Không đóng trình duyệt đến khi xuất hiện nút TẢI XUỐNG

The crystalline morphology such as domain texturing, lattice tilting in a thick aluminum nitride (AlN) film grown on a trench-patterned α-Al2O3 template was investigated using X-ray diffraction measurements. The results clearly demonstrated that the trench-patterned template has a strong influence on the crystalline morphology in the thick AlN film. |

TÀI LIỆU LIÊN QUAN

Enhancing management measures on students'self- study activities at Hung Vuong University, Phu Tho, Viet Nam

A systematic mapping study of cloud computing middleware, stacks, tools, delivery networks

A STUDY ON FORMS EXPRESSING FUTURE MEANINGS IN ENGLISH AND VIETNAMESE

Nghiên cứu trường hợp (Case Study) như một chiến lược nghiên cứu - Thành Nhân

Perioperative patient outcomes in the African Surgical Outcomes Study: a 7-day prospective observational cohort study

Lesson study and application experience of lesson study to build capacity for students of literature education

2 bộ giáo trình English hay English Study 4.1 và English Study Pro 1.0 là 2 giáo trình

US STUDY GUIDE

AMERICAN HERO-MYTHS. A STUDY IN THE NATIVE RELIGIONS OF THE WESTERN CONTINENT

Ebook ACCA F7 INT Study text Financial Reporting
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.