Đang chuẩn bị liên kết để tải về tài liệu:
Báo cáo "Preparation and characteristics of the In-doped ZnO thin films and the n-ZnO:In/p-Si heterojunctions for optoelectronic switch"

Không đóng trình duyệt đến khi xuất hiện nút TẢI XUỐNG

Preparation and characteristics of the In-doped ZnO thin films and the n-ZnO:In/p-Si heterojunctions for optoelectronic switch n-ZnO:In/p-Si heterojunctions have been fabricated by sputter deposition of n-ZnO:In on p-Si substrates. The lowest resistivity n-ZnO:In film was obtained at a substrate temperature of 150$^o$C using a ZnO target doped with 2 wt\% In$_2$O$_3$. At substrate temperature above 300$^o$C the resistivity of the film increases as the carrier concentration decreases. This implies a significant decrease in the donor impurity, which is ascribed to evaporation of the indium during film growth. .

Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.