Đang chuẩn bị liên kết để tải về tài liệu:
Độ tin cậy hệ thống Thử nghiệm độ chín chắn của thiết kế

Không đóng trình duyệt đến khi xuất hiện nút TẢI XUỐNG

Chương này thảo luận về giai đoạn phát triển dùng phép thử nghiệm tính chín chắn của thiết kế DMT cho ICS, thiết bị hỗn hợp và các lắp ghép để bảo đảm độ tin cậy cao trong các ứng dụng dài hạn (10 năm). Các thie1t bị và bộ phận lắp ghép là đại diện cho phần lớn các sản phẩm trong công nghệ IC.

TÀI LIỆU LIÊN QUAN

Độ tin cậy hệ thống Tăng trưởng độ tin cậy gia tốc

Độ tin cậy hệ thống Phương pháp thống kê đơn gian dùng trong độ tin cậy

Độ tin cậy hệ thống Khoa học về độ tin cậy

Độ tin cậy hệ thống Thiết kế đánh giá độ tin cậy

Độ tin cậy hệ thống Độ tin cậy của quá trình bán dẫn

Độ tin cậy hệ thống Mô hình dự báo độ tin cậy

Độ tin cậy hệ thống Thử nghiệm độ chín chắn của thiết kế

Độ tin cậy hệ thống Tìm hiểu yêu cầu của khách hàng

Độ tin cậy hệ thống Thẩm tra và giám sát

Độ tin cậy hệ thống Phân tích vật lý
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.