Đang chuẩn bị liên kết để tải về tài liệu:
Báo cáo "Investigation of zinc oxide thin film by spectroscopic ellipsometry "

Không đóng trình duyệt đến khi xuất hiện nút TẢI XUỐNG

ZnO films were deposited on glass substrates by magnetron RF-sputtering. An accurate determination of the optical constants of these films is extremely important prior to its application in optical devices and spectroscopic ellipsometry provides a reasonably accurate method for the determination of optical constants of thin films.

Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.