Electrochromic behavior of NiO film prepared by e-beam evaporation

The NiO thin films were prepared by the electron beam evaporation method using synthesized sintered targets. As-prepared films were characterized using X-ray diffraction, scanning electron microscopy, UVeVIS spectroscopy and cyclic voltammetry. The thicker films were found to exhibit a well-defined structure and a well-developed crystallite size with greater transmittance modulation and durability. |

Không thể tạo bản xem trước, hãy bấm tải xuống
TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.