Void-defect location control of laser-crystallized silicon thin films with Hole-Pattern

High-performance low-temperature polycrystalline silicon (LTPS) thin-film transistors (TFTs) have been developed for larger applications than flat panel displays (FPDs) such as threedimensional integrated circuits (3D-ICs) and glass sheet computers. The crystallinity of poly-Si thin films has been the key factor determining TFTs’ performance. |

Không thể tạo bản xem trước, hãy bấm tải xuống
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.